Serdecznie zapraszamy na seminarium metrologiczne Polskiej Unii Metrologicznej, pt.

"Metrologia jako fundament innowacji – rola metrologii w rozwoju technologicznym wspomaganym AI", 

które odbędzie się 25 marca 2026 r. w Kielcach, podczas targów Przemysłowa Wiosna.

To już piąta edycja wydarzenia organizowanego przez PUM we współpracy z Głównym Urzędem Miar i Targami Kielce - tym razem poświęcona kluczowej roli metrologii w rozwoju nowoczesnych technologii wspieranych sztuczną inteligencją.

Seminarium będzie okazją do wymiany doświadczeń między przedstawicielami nauki, przemysłu i administracji, a także do nawiązania nowych kontaktów w dynamicznie rozwijającym się obszarze nowoczesnych pomiarów i automatyzacji.

Serdecznie zapraszamy do udziału oraz śledzenia transmisji online dostępnej na stronie.

Więcej informacji na stronie pum.pollub.pl