Aktualności

Program merytoryczny Targów Przemysłowej Techniki Pomiarowej oraz Badań Nieniszczących CONTROL-TECH wzbogaci wystąpienie poświęcone zastosowaniu technologii XRF w szybkiej weryfikacji stopów metali w odlewniach. Prelekcję zatytułowaną „Faster Alloy Verification for Foundries: Elvatech XRF Solutions” poprowadzi Vladyslav Bush z firmy Elvatech.

Szybsza identyfikacja stopów dzięki XRF

Weryfikacja składu materiałów jest jednym z istotnych elementów kontroli jakości w odlewnictwie i przemyśle metalowym. Możliwość szybkiego potwierdzenia gatunku stopu pomaga m.in. w kontroli surowców, identyfikacji materiałów oraz ograniczaniu ryzyka wykorzystania niewłaściwego materiału w procesie produkcyjnym.

Podczas spotkania Vladyslav Bush przedstawi rozwiązania Elvatech wykorzystujące energo-dyspersyjną fluorescencję rentgenowską (EDXRF). Firma, która w 2026 roku obchodzi 35-lecie działalności, od 1991 roku rozwija i produkuje spektrometry oraz analizatory XRF. Jej rozwiązania znajdują zastosowanie m.in. w odlewnictwie, analizie stopów, sortowaniu złomu, Positive Material Identification (PMI), badaniu metali szlachetnych, górnictwie i innych zastosowaniach przemysłowych.

Praktyczna wiedza dla branży odlewniczej

Prelekcja będzie okazją do poznania możliwości wykorzystania technologii XRF w codziennej pracy zakładów odlewniczych i produkcyjnych. Tematyka spotkania wpisuje się w profil CONTROL-TECH, który łączy rozwiązania z zakresu przemysłowej techniki pomiarowej, kontroli jakości, badań materiałowych i badań nieniszczących.

Wystąpienie będzie szczególnie interesujące dla przedstawicieli odlewni, laboratoriów, działów kontroli jakości, specjalistów odpowiedzialnych za identyfikację materiałów oraz przedsiębiorstw zajmujących się przetwarzaniem i segregacją metali.

Elvatech na Speech Corner CONTROL-TECH

„Faster Alloy Verification for Foundries: Elvatech XRF Solutions”
Prelegent: Vladyslav Bush, Elvatech