Aktualności

Trzydniowa konferencja zgromadziła przedstawicieli środowiska naukowego, administracji publicznej oraz biznesu. Jej interdyscyplinarny charakter stworzył przestrzeń do wymiany wiedzy i doświadczeń dotyczących najważniejszych wyzwań współczesnej metrologii – dziedziny odgrywającej kluczową rolę w rozwoju nowoczesnych procesów produkcyjnych.

Wśród poruszanych zagadnień znalazły się m.in. wykorzystanie sztucznej inteligencji i uczenia maszynowego w metrologii, przetwarzanie dużych zbiorów danych (Big Data), technologie laserowe w pomiarach oraz automatyzacja procesów pomiarowych w kontekście Przemysłu 5.0. To obszary, które mają coraz większe znaczenie dla precyzji, jakości i efektywności produkcji.

Konferencję zorganizowano w ramach działalności Polskiej Unii Metrologicznej (PUM), prowadzonej przez Politechnikę Lubelską w ramach zadania zleconego przez Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego pn. „Wzmocnienie i ugruntowanie działalności Polskiej Unii Metrologicznej (PUM) w Polsce”. W wydarzeniu uczestniczyli również eksperci m.in. z Głównego Urzędu Miar i Politechniki Świętokrzyskiej.

Klaster Metrologiczny łączy naukę z przemysłem

EXPO Kielce reprezentowali Urszula Wasińska, dyrektorka Centrum Kongresowego i koordynatorka Klastra Metrologicznego, oraz Jakub Górski z zespołu targów CONTROL-STOM, organizowanych w ramach Przemysłowej Wiosny.

Ważnym punktem programu była prezentacja działalności Klastra Metrologicznego, którą przedstawiła Urszula Wasińska. Inicjatywa integruje środowiska naukowe, instytucje oraz przedsiębiorstwa wokół rozwoju nowoczesnych technologii pomiarowych, wspierając wymianę doświadczeń i współpracę między nauką a biznesem.

Klaster Metrologiczny powstał podczas Przemysłowej Wiosny w EXPO Kielce. Jego dalsza działalność pokazuje, że wydarzenia targowe są nie tylko miejscem prezentacji innowacyjnych rozwiązań, ale również przestrzenią, w której rodzą się inicjatywy rozwijające współpracę nauki i przemysłu.

Od badań naukowych do zastosowań przemysłowych – CONTROL-STOM 2027

Zagadnienia podejmowane podczas konferencji „New Trends in Metrology” są bezpośrednio związane z tematyką targów CONTROL-STOM – Targów Przemysłowej Techniki Pomiarowej, stanowiących część Przemysłowej Wiosny.

Rozwój inteligentnych systemów pomiarowych, automatyzacja kontroli jakości i coraz szersze wykorzystanie zaawansowanych technologii w produkcji sprawiają, że metrologia staje się jednym z istotnych obszarów transformacji przemysłu. Współpraca ekspertów, naukowców i przedsiębiorców pozwala przekładać wyniki badań na rozwiązania znajdujące praktyczne zastosowanie w zakładach produkcyjnych.

Targi CONTROL-STOM tworzą przestrzeń do prezentacji tych technologii, wymiany doświadczeń i nawiązywania kontaktów pomiędzy dostawcami aparatury pomiarowej a przedstawicielami przemysłu.

Kolejna edycja Przemysłowej Wiosny, w tym targów CONTROL-STOM, odbędzie się w dniach 6–9 kwietnia 2027 roku w EXPO Kielce. Będzie to następna okazja do spotkania środowisk, które wspólnie kształtują przyszłość nowoczesnej produkcji i metrologii przemysłowej.